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CloudTesting™ Serviceとは?

CloudTesting™ Serviceは、半導体デバイスの測定環境を提供するサービスです。測定器は無償レンタル、ソフトウェアは月額で利用できます。

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導入事例

株式会社ソシオネクストと株式会社富士通研究所

CTSを利用したソフトエラーの評価および研究

JAXA

電子部品の研究・評価に、CloudTesting™ Serviceを採用

ラピスセミコンダクタ株式会社

出力ドライバビリティ調整機能付きSDRAMのデモに、CX1000Dを利用

中部大学

中部大学の宮本教授、SSDMに採択された研究において、CloudTesting™ Serviceを採用

その他の導入事例

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メディア掲載

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最新のリリース

Pattern Viewer Tool 1.18.01
2024年11月01日(金) - アナリシスIP
Digital Output Capture IP 2.05.01
2024年06月11日(火) - アルゴリズムIP
Current and Voltage Measurements for Memory (DCParametricMeasure_Mem_TypeF_IP) 1.07.02
2024年06月11日(火) - アルゴリズムIP
Power Supply Current Measurement for Memory (PowerSupplyCurrentMeasure_Mem_TypeF_IP) 1.07.03
2024年06月11日(火) - アルゴリズムIP
Measurement facilitation by General I/F(I2C) package IP 1.01.10
2023年08月14日(月) - アルゴリズムIP
Measure Item Execution IP 1.02.00
2023年07月11日(火) - アルゴリズムIP

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