出力ドライバビリティ調整機能付きSDRAMのデモに、CX1000Dを利用
ラピスセミコンダクタ株式会社様は、2016年1月13日から15日にかけて開催されたカーエレクトロニクス技術展に、「高信頼性レガシーSDRAMシリーズ」を出展されました。この展示において、SDRAMの動作デモを行うために、CX1000Dが利用されました。
デモの様子
高信頼性レガシーSDRAMシリーズの概要
主要なスペック
| Data Rate | SDR |
|---|---|
| 電源電圧 | 3.3±0.3 (V) |
| メモリ容量 | 16Mbit – 256Mbit |
| データbit数 | 16 |
| パッケージ | TSOP(Ⅱ)50Cu または TSOP(Ⅱ)54Cu（品種による） |
高信頼性レガシーSDRAMシリーズの特長
～出力ドライバビリティ調整機能とは～
従来、SDRAMは、一つのバス上に複数のチップが接続されるのが一般的でした。そのため、そのような環境下でもデータを送信できるようにするために、SDRAMには高いドライブ能力が求められていました。
しかし最近では、コントローラとSDRAMが1対1で接続されることも多くなっています。そのような、伝送路の負荷が少ない環境に、ドライブ能力が高いSDRAMを実装すると、ドライブ能力過多となってリンギングが発生し、ノイズが発生してしまうことがあります。そのため、ダンピング抵抗を介してSDRAMを接続したり、EMI対策用の部品を配置したりする必要がありました。
そこで、この高信頼性レガシーSDRAMシリーズでは、拡張モードレジスタを設定することによって、出力ドライバビリティを、12.5%, 25%, 50%, 100%の4段階に調整できるようにし、多様な実装環境に対応できるようになっています。この機能を利用することによって、ダンピング抵抗やEMI対策用部品が不要になり、コストダウンや実装面積の削減が可能になります。
デモの内容
CloudTesting™ Station CX1000DとSDRAMを接続し、CX1000DでSDRAMの拡張モードレジスタを変えながらデータを出力させて、SDRAMからの出力波形がどのように変化するのかを、オシロスコープで実際に表示されました。
デモ内容を説明したパネル
各ドライバビリティでの出力波形を表示しているオシロスコープ
写真では分かりにくいですが、オシロスコープには、各ドライバビリティでの出力波形が表示され、ドライバビリティを下げることによってリンギングが治まる様子を確認することができました。
※詳細については、別途ラピスセミコンダクタ株式会社(http://www.lapis-semi.com/jp/)にお問合せください。
