CloudTesting™ Serviceは、半導体デバイスや電気・電子部品の測定環境を提供するサービスです。
測定器は無償レンタル、ソフトウェアは月額で利用できます。
マイクロコントローラやメモリ、センサなど様々なデバイスの測定・解析に対応しています。
サービスの導入から目的にあった製品のご提案まで、テストに精通したエンジニアがサポート致します。
測定器は、アドバンテスト製半導体テスタCloudTesting™ Stationです。 CX1000PとCX1000Dの2機種から選べます。
MCUファームウェアは最大周波数100MHzで、Memoryファームウェアは最大周波数266MHz/533Mbpsで試験できます。
測定チャンネル | CX1000P | CX1000D | CX1000D S2-LINK |
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Digital I/O | 32ch | 128ch | 256ch |
Power Supply | 2ch | 8ch | 16ch |
Reference Voltage Supply | 2ch | 8ch | 16ch |
Arbitrary Waveform Generator | 1ch | 4ch | 8ch |
Digitizer | 1ch | 4ch | 8ch |
測定はCloudTesting™ Labというソフトウェアで、CloudTesting™ Stationという測定器を制御して行います。
はじめに、CloudTesting™ Stationの測定チャンネルとデバイスのピンの接続を定義します。
ピン名ごとに、接続する測定チャンネルの種類と番号を指定します。
CloudTesting™ Serviceは、測定手法をアルゴリズムIPというプラグインで提供します。
測定条件は、視覚的なユーザインターフェースを使って見たままに設定できます。
2次元特性評価用ツールは、測定条件を変化させた時の機能試験の結果をグラフで表示するアナリシスIPです。
ロジックアナライザは、デジタル入出力信号を論理波形で表示するアナリシスIPです。
動作パターンデータ比較判定表示ツールは、パターン・プログラムの実行結果を表形式で表示するアナリシスIPです。