お知らせ

2018年11月30日(金)
ICCAD 2018に参加

ICCAD 2018にてCloudTesting(TM) Serviceをご紹介いたします。

2018年11月26日(月)
SEMICON Japanに参加

SEMICON Japan 2018にてCloudTesting(TM) Serviceをご紹介いたします。

2018年11月01日(木)
electronica 2018に出展

11月13日-11月16日に開催されるelectronica 2018にてCloudTesting(TM) Serviceをご紹介いたします。

2018年10月31日(水)
パターン変換ソフトウエア「TesterBridge」を発表

International Test Conferenceにて、EDA自動変換ソフトウエア「TesterBridge」を発表しました。

2018年10月26日(金)
ITC 2018に参加

10月28日-11月2日に開催されるInternational Test Conference(ITC)にてCloudTesting(TM) Serviceをご紹介いたします。

2018年10月25日(木)
休業日のお知らせ

11月2日(金)は、当社カレンダーにより、終日休業いたします。

2018年10月11日(木)
ディジタル出力キャプチャIP[PCXA01-M1031]不具合のお知らせ

ディジタル出力キャプチャIPの不具合についてお知らせ致します。

2018年10月11日(木)
ディジタル出力キャプチャIP用取得範囲拡張プラグイン[PCXA01-M1044]不具合のお知らせ

ディジタル出力キャプチャIP用取得範囲拡張プラグインの不具合についてお知らせ致します。

2018年10月05日(金)
汎用サーチIP[PCXA01-M5005]不具合のお知らせ

汎用サーチIPの不具合についてお知らせ致します。

2018年10月02日(火)
DCパラメトリック測定IP[PCXA01-M1025]不具合のお知らせ

DCパラメトリック測定IPの不具合についてお知らせ致します。