お知らせ

2017年06月20日(火)
DCパラメトリック測定IP[PCXA01-M1025]不具合のお知らせ

DCパラメトリック測定IP[PCXA01-M1025]について測定に関する不具合について お知らせ致します。

2017年06月12日(月)
International Test Conference (INDIA)- 2017に参加

7月9日-11日に開催されるInternational Test Conference (INDIA)- 2017 (ITC India 2017)にてCloudTesting(TM) Serviceをご紹介いたします。

2017年05月19日(金)
NEPCON Thailand 2017に参加

NEPCON Thailand 2017にてCloudTesting(TM) Serviceをご紹介いたします。

2017年04月26日(水)
VOCIE 2017に参加

5月16日、17日に開催されるVOICE 2017にてCloudTesting(TM) Serviceをご紹介いたします。

2017年04月24日(月)
IEEE European Test Symposium 2017(ETS'17)に参加

5月22日から26日に開催される22nd IEEE European Test Symposium (ETS)に参加致します。

2017年04月18日(火)
2017年度ゴールデンウィーク中の営業のご案内

4月29日から5月7日のゴールデンウィーク中の営業内容を以下の通りとさせていただきます。ご不便をおかけしますが、ご了承のほどよろしくお願いします。

2017年02月21日(火)
DATE 2017に出展

Cloud Testing Service株式会社は、3月27日から31日に開催されるDATE 2017に出展致します。

2017年01月27日(金)
IESA Vision Summit 2017に出展

Cloud Testing Service株式会社は、2月21日から22日に開催されるIESA Vision Summit 2017に出展致します。

2016年12月26日(月)
2016年度 年末年始営業のご案内

Cloud Testing Service株式会社は2016年12月29日から2017年1月3日まで、営業内容を変更させて頂きます。

2016年12月12日(月)
SEMICON Japan 2016に出展

Cloud Testing Service株式会社は、SEMICON Japan 2016に出展致します。