お知らせ

2017年04月24日(月)
IEEE European Test Symposium 2017(ETS'17)に参加

5月22日から26日に開催される22nd IEEE European Test Symposium (ETS)に参加致します。

2017年04月18日(火)
2017年度ゴールデンウィーク中の営業のご案内

4月29日から5月7日のゴールデンウィーク中の営業内容を以下の通りとさせていただきます。ご不便をおかけしますが、ご了承のほどよろしくお願いします。

2017年02月21日(火)
DATE 2017に出展

Cloud Testing Service株式会社は、3月27日から31日に開催されるDATE 2017に出展致します。

2017年01月27日(金)
IESA Vision Summit 2017に出展

Cloud Testing Service株式会社は、2月21日から22日に開催されるIESA Vision Summit 2017に出展致します。

2016年12月26日(月)
2016年度 年末年始営業のご案内

Cloud Testing Service株式会社は2016年12月29日から2017年1月3日まで、営業内容を変更させて頂きます。

2016年12月12日(月)
SEMICON Japan 2016に出展

Cloud Testing Service株式会社は、SEMICON Japan 2016に出展致します。

2016年11月28日(月)
CloudTesting™ Labで意図しないパワー・オンが発生する不具合のお知らせ

現在ご利用いただいておりますCloudTesting™ Labにおいて、意図しないパワー・オンが発生する場合があることが判明いたしました。

2016年11月10日(木)
ET 2016 組込み総合技術展に出展

CloudTesting™ Serviceを用いたデモンストレーションが、11月16日から11月18日にかけて開催される[ET 2016 組込み総合技術展]のお客様ブースにて実施されます。

2016年11月09日(水)
システムメンテナンスのお知らせ

2016年12月7日(水)09:00から11:00までの間、一部サービスを利用頂けません。

2016年10月04日(火)
Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージの提供を開始

Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージの提供を開始