Linear Sensor Test Package (CX1000D)

Linear Sensor Test Package (CX1000D)は、リニア・デバイスやセンサ・デバイスの評価と解析を行うために必要なIPを集めたパッケージ商品です。個別にIPをご契約頂くのに比べて大変お得な商品となっております。

本パッケージには、測定に必要なアルゴリズムIPやデバッグツールだけでなく、強力な測定支援IPも付属します。デバイス内回路のトリミングやe-Fuseのブローといった高度な測定や、テストの自動化が可能です。パターンを生成するためのEDA連携IPや、デバイス搬送装置と接続するための外部連携IPは、本製品に含まれておりません。

外部の計測器と連携して多様な測定ニーズに対応できます。

次の検証・測定を行うことができます。

  • テスト・パターンを使用した機能検証、特性評価
  • DCパラメータの検証、特性評価
  • 電源電流の検証、特性評価
  • A/DコンバータのDCリニアリティ特性の検証、特性評価
  • D/AコンバータのDCリニアリティ特性の検証、特性評価
  • センサやアナログ出力信号の検証、特性評価
  • デジタル出力信号の検証、特性評価

次のような用途でのご利用にお薦めの商品です。

  • 機能検証
  • 性能評価
  • デバイス内調整回路のトリミング
  • 信頼性評価
  • 不良解析
  • テスト・パターンのデバッグ
  • シリコンのデバッグ
  • ES品、CS品の選別ワーク
  • 小規模生産品の量産テスト

本パッケージに含まれるIPを下記に示します。

詳細 

商品名 Linear Sensor Test Package (CX1000D)
CloudTesting Station CX1000D
ファームウェア CX1000_MCU
CloudTesting Lab R2.28.00以降

カートに入れる

製品グループパッケージ
型番PCXP01-M1008
提供元株式会社アドバンテスト
対応機器
  • CX1000D CX1000_MCU

リビジョン

リリース日リビジョン番号内容
2017年05月16日(火)1.00.00

初版リリース