Shmoo Plot Tool for Memory

Shmoo Plot Tool for Memoryは、特性評価に使用する解析用ツールと解析用アルゴリズムです。 測定条件を変更しながら実行結果および測定値の取得が出来ます。

機能

Shmoo Plot Tool

  • 測定条件を変化させながら繰り返し測定項目を実行し、パターンプログラムの結果をグラフで表示できます
    • 変化させる測定条件のパラメータは、2つまで指定できます
    • 測定条件を変化させる条件は、次のいずれかの方法で指定できます
      • 開始値と間隔、回数で指定する
      • 測定条件のパラメータを選択し、その値に対する倍率とオフセット値を指定する
    • 測定条件を変化させる条件は、ワークプロジェクトに保存・読み込みできます
    • 測定項目の実行結果は視覚的に表示できます
  • 測定項目の実行結果と測定値は、コンソールに出力できます
  • 測定項目の実行結果と測定値は、CSV形式でファイルに保存できます

Shmoo Algorithm

  • Shmoo条件に従って測定条件を変化させながら、測定項目を繰り返し実行できます
  • 測定結果をコンソールとファイルに出力できます

カートに入れる

製品グループアナリシスIP
型番PCXT01-M8001
関連リンク
提供元株式会社ADVANTEST
対応機器
  • CX1000P MEMORY_TYPE_F
  • CX1000D MEMORY_TYPE_F
Current and Voltage Measurements for Memory

Functional Testing for Memory

Power Supply Current Measurement for Memory

リビジョン

リリース日リビジョン番号内容
2020年02月03日(月)2.41.00

Shmoo Algorithm

  • 不具合項目

    1. Rev 2.41.00より前のShmoo軸条件を使用すると、設定した測定値の取得ができませんでした。
      [改善後の動作]
      上記の条件において、測定値が取得できます。
      [現象発生レビジョン]
      Rev 2.41.00

Shmoo Plot Tool

  • 不具合項目
    1. Shmoo結果の任意のポイントでの測定の再実行で、測定結果が表示されませんでした。
      [改善後の動作]
      上記の条件において、測定結果が表示されます。
      [現象発生レビジョン]
      Rev 2.41.00
2020年01月16日(木)2.41.00
  • 追加機能

    1. 前処理、後処理項目のInitial、Final指定に対応しました。
    2. 前処理、後処理項目の結果がFailまたはErrorの時に解析処理を中断する機能に対応しました。
    3. Shmoo結果を取得する測定項目を選択する機能に対応しました。
    4. Shmooデータ取得中に測定項目のデータログを出力する機能に対応しました。
  • 改善機能

    1. パラメータの変数を実行前に再評価するように改善しました。
2016年05月09日(月)2.25.00
  • 不具合項目
    1. Shmooを停止させて、すぐにShmooの取得を実行すると、Shmooが正しく取得できませんでした。

      改善後の動作
      上記の条件において、正しくShmooの取得ができるようになりました。
      現象発生レビジョン
      Rev 1.00.00 ~ Rev 2.24.00
    2. Shmoo Plotを起動後、信号条件を変更して測定項目を実行するとエラーが発生し、測定ができませんでした。

      改善後の動作
      上記の条件において、正しく測定できるようになりました。
      現象発生レビジョン
      Rev 2.24.00
    3. 測定項目を実行すると、Shmoo結果がクリアされていました。

      改善後の動作
      上記の条件において、Shmoo結果はクリアされなくなりました。
      現象発生レビジョン
      Rev 2.24.00
2016年03月18日(金)2.24.00
  • 追加機能
    • X軸およびY軸のパラメータに変数を指定できるようになりました。
  • 改善機能
    • 解析用アルゴリズムのShmooの測定条件の指定方法を改善しました。

関連するお知らせ

2016年11月10日(木)
ET 2016 組込み総合技術展に出展

CloudTesting™ Serviceを用いたデモンストレーションが、11月16日から11月18日にかけて開催される[ET 2016 組込み総合技術展]のお客様ブースにて実施されます。