High Resolution Timing Setting for Memory_TypeF License

High Resolution Timing Setting for Memory_TypeF LicenseはFunctional Testing for Memory(PCXA01-M3001)にタイミング・エッジを78.12psの高分解能で設定する機能を追加します。

この機能は、高精度なタイミング設定が必要とする測定で使用します。

具体的な使用例としては以下の内容となります。

• ハイスピードICメモリの判定タイミング調整
• ハイスピードICメモリのACスペックによるGO/NOGO判定

Rev 1.01.00の改版内容

改版履歴をFunctional Testing for Memory(PCXA01-M3001)に統合しました。 Functional Testing for Memory(PCXA01-3001)の改版履歴をご参照ください。

機能

このライセンスは、 Functional Testing for Memory(PCXA01-M3001)に以下の機能を追加します。

• 印加タイミング・エッジ/判定タイミング・エッジを78.12psの分解能で設定できます。

• マニュアルはFunctional Testing for Memory(PCXA01-3001)の「機能」から参照してください。