CloudTesting™ Lab 2.24.01

1. 改版概要

レビジョン番号
2.24.01
改版理由
不具合修正

2. 不具合項目

2.1 Setup and Execution

(1) DC パラメトリック測定でエラーとなる現象

I/O以外のピンを対象に、DC パラメトリック測定を行うとエラーとなりました。

改善後の動作
正しくDC パラメトリック測定ができるようになりました。
現象発生レビジョン
Rev 2.24.00
対象ファームウェア
CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(2) タイミング設定がエラーとなる現象

Rev 2.23.01以前のレビジョンで設定できていた、タイミングの上限値付近の値を設定すると、エラーとなる事がありました。

改善後の動作 Rev 2.23.01以前のレビジョンと同様に設定ができるようになりました。

現象発生レビジョン
Rev 2.24.00
対象ファームウェア
CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(3) フェイル・キャプチャ条件のアドレス設定にアドレス・ビット指定するとエラーとなる現象

フェイル・キャプチャ条件のアドレス設定にアドレス・ビット指定するとエラーになりました。

改善後の動作
フェイル・キャプチャ条件のアドレス設定にアドレス・ビット指定してもエラーになりません。
現象発生レビジョン
Rev 2.24.00
対象ファームウェア
CX1000_MEMORY_TYPE_F