2016年10月04日(火)
Cloud Testing Service株式会社は、シリアルNORフラッシュメモリの評価を開始するまでの時間を短縮するアプリケーション・パッケージの提供を開始しました。
NORフラッシュメモリは、ROM(Read Only Memory)の代表的なデバイスであるフラッシュメモリの一種です。 NORフラッシュメモリでも信号ピンが少ないシリアルNORフラッシュメモリは、マイコンとの親和性が高く、 プログラムを格納する用途でマスクROMやEEPROMなどのメモリデバイスを置き換えています。
商社やセットメーカーからは、品質の強化や素早い不具合調査の実現を目的に、自身でデバイスの評価を実施したいという要望があります。 しかし、実際に評価を開始するにはテスト技術を持ったエンジニアが、測定用ボードの設計と測定用プログラムの開発を行う必要があり、その実現は容易ではありませんでした。
CloudTesting™ Serviceは、以下の製品を提供することで、テスト技術を持たないお客様でも簡単に測定を開始できるテストソリューションを実現しました。
- デバイスごとに異なる測定条件に対応した測定用プログラム
- 規格化されたデバイスパッケージに対応した測定用ボード
- Serial NOR Flash Memory 測定ボード(ソケット無し)
- Serial NOR Flash Memory 測定ボード(150mil用ソケット8個搭載)
- Serial NOR Flash Memory 測定ボード(208mil用ソケット8個搭載)
- Serial NOR Flash Memory 測定ボード(300mil用ソケット8個搭載)
- Serial NOR Flash Memory 測定ボード(150+300mil用ソケット16個搭載)
- Serial NOR Flash Memory 測定ボード(208+300mil用ソケット16個搭載)
メモリデバイスの評価が設計や量産だけでなく、実際に利用される現場で実施されることで、 半導体業界全体で品質の作り込みが進むことが期待されます。