Serial NOR Flash Memory Application Packageは、シリアルNORフラッシュメモリを測定するアプリケーションのパッケージです。 本パッケージは、ワークプロジェクトとパターン・プログラムを含みます。
本パッケージは、パッケージに含まれる対応デバイスを選択できます。 次の流れに従って、ご購入頂けます。お見積の依頼は、ヘルプデスクまでご連絡ください。
- CX1000 Satellite Board Boxを購入する
- 利用するデバイスと測定用ボードを選択して、見積りを依頼する
- 発行された見積りから、購入手続きを行う
本パッケージは、CX1000 Satellite Board Box(288,000円)と測定用ボード(価格は下表を参照)を含みませんので、ご注意下さい。
測定用ボードは、お見積を依頼される際に対応するデバイスに応じて下表からご選択ください。
| 製品名 | 価格 |
|---|---|
| Serial NOR Flash Memory 測定ボード(ソケット無し) | 40,000円 |
| Serial NOR Flash Memory 測定ボード(150mil用ソケット8個搭載) | 180,000円 |
| Serial NOR Flash Memory 測定ボード(208mil用ソケット8個搭載) | 180,000円 |
| Serial NOR Flash Memory 測定ボード(300mil用ソケット8個搭載) | 180,000円 |
| Serial NOR Flash Memory 測定ボード(150+300mil用ソケット16個搭載) | 280,000円 |
| Serial NOR Flash Memory 測定ボード(208+300mil用ソケット16個搭載) | 280,000円 |
本パッケージは日本国内のみで販売されます。
シリアルNORフラッシュメモリとは
NORフラッシュメモリは、ROM(Read Only Memory)の代表的なデバイスであるフラッシュメモリの一種です。 主にプログラムを格納する用途で使用され、マスクROMやEEPROMなどのメモリデバイスのほとんどがNORフラッシュメモリに置き換えられています。
NORフラッシュメモリは、パラレルNORフラッシュメモリとシリアルNORフラッシュメモリの2種類があります。
シリアルNORフラッシュメモリは、SPI(Serial Peripheral Interface)やI2C(Inter Integrated Circuit)などのシリアル・インタフェースを採用しています。 これらのインタフェースは、信号ピンが少なく、マイコンとの親和性の高いという特徴があります。
対応するデバイスと価格
対応するデバイスは、下表のとおりです。
| メーカ | 型番 | パッケージ | ピン数 |
| GigaDevice | GD25Q41BTIGR | SOIC(150mil) | 8 |
| GD25Q80BSIGR | SOIC(208mil) | 8 | |
| GD25Q16BSIGR | SOIC(208mil) | 8 | |
| GD25Q32CSIGR | SOIC(208mil) | 8 | |
| GD25Q64BSIGR | SOIC(208mil) | 8 | |
| GD25Q128CSIGR | SOIC(208mil) | 8 | |
| GD25Q128CFIGR | SOIC(300mil) | 16 | |
| GD25Q256CFIG | SOIC(300mil) | 16 | |
| Macronix | MX25L3233FM2I-08G | SOIC(208mil) | 8 |
| MX25L6433FM2I-08G | SOIC(208mil) | 8 | |
| MX25L12835FM2I-10G | SOIC(208mil) | 8 | |
| MX25L12835FMI-10G | SOIC(300mil) | 16 | |
| MX25L25635FMI-10G | SOIC(300mil) | 16 | |
| Winbond | W25Q40CLSNIG | SOIC(150mil) | 8 |
| W25Q80DVSSIG | SOIC(208mil) | 8 | |
| W25Q16DVSSIG | SOIC(208mil) | 8 | |
| W25Q32FVSSIG | SOIC(208mil) | 8 | |
| W25Q64FVSSIG | SOIC(208mil) | 8 | |
| W25Q128FVSIG | SOIC(208mil) | 8 | |
| W25Q128FVFIG | SOIC(300mil) | 16 | |
| W25Q256FVFIG | SOIC(300mil) | 16 | |
| Spansion | S25FL116K0XMFI010 | SOIC(208mil) | 8 |
| S25FL116K0XMFI040 | SOIC(208mil) | 8 | |
| S25FL132K0XMFI010 | SOIC(208mil) | 8 | |
| S25FL164K0XMFI010 | SOIC(208mil) | 8 | |
| S25FL127SABMFI101 | SOIC(208mil) | 8 | |
| S25FL127SABMFI000 | SOIC(300mil) | 16 | |
| S25FL256SAGMFI010 | SOIC(300mil) | 16 | |
| S25FL256SAGMFI000 | SOIC(300mil) | 16 | |
| S25FL512SAGMFI010 | SOIC(300mil) | 16 | |
| Micron | M25P80VMN6P | SOIC(150mil) | 8 |
| M25P16VMN6P | SOIC(150mil) | 8 | |
| N25Q032A13ESE40E | SOIC(208mil) | 8 | |
| N25Q064A13ESE40E | SOIC(208mil) | 8 | |
| N25Q128A13ESE40E | SOIC(208mil) | 8 | |
| N25Q256A13ESF40F | SOIC(300mil) | 16 |
価格は、パッケージに含まれる対応デバイスの数に応じて異なります。 対応デバイスの数ごとの価格は、下表のとおりです。
| 対応デバイスの数 | 価格 |
|---|---|
| 1品種から3品種まで | 400,000円 + 200,000円×品種数 |
| 4品種から6品種まで | 400,000円 + 170,000円×品種数 |
| 7品種から33品種まで | 400,000円 + 150,000円×品種数 |
パッケージと信号名称
本パッケージが対応するデバイスパッケージは、SPIインタフェースを持つ8ピンタイプと16ピンタイプのシリアルNORフラッシュメモリです。
8ピンタイプのシリアルNORフラッシュメモリのピン・アサインは、下表の通りです。
| Pin Number | Pin Name | Channel Type | Tester Channel No. | |||||||
| DUT1 | DUT2 | DUT3 | DUT4 | DUT5 | DUT6 | DUT7 | DUT8 | |||
| 1 | CS | I/O | 1 | 6 | 33 | 38 | 65 | 70 | 97 | 102 |
| 2 | DO | I/O | 25 | 26 | 57 | 58 | 89 | 90 | 121 | 122 |
| 3 | WP | I/O | 2 | 7 | 34 | 39 | 66 | 71 | 98 | 103 |
| 4 | VSS | GND | GND | GND | GND | GND | GND | GND | GND | GND |
| 5 | DI | I/O | 3 | 8 | 35 | 40 | 67 | 72 | 99 | 104 |
| 6 | CLK | I/O | 4 | 9 | 36 | 41 | 68 | 73 | 100 | 105 |
| 7 | HOLD | I/O | 5 | 10 | 37 | 42 | 69 | 74 | 101 | 106 |
| 8 | VCC | PPS | PPS1 | PPS2 | PPS3 | PPS4 | PPS5 | PPS6 | PPS7 | PPS8 |
16ピンタイプのシリアルNORフラッシュメモリのピン・アサインは、下表の通りです。
| Pin Number | Pin Name | Channel Type | Tester Channel No. | |||||||
| DUT1 | DUT2 | DUT3 | DUT4 | DUT5 | DUT6 | DUT7 | DUT8 | |||
| 1 | HOLD | I/O | 11 | 17 | 43 | 49 | 75 | 81 | 107 | 113 |
| 2 | VCC | PPS | PPS1 | PPS2 | PPS3 | PPS4 | PPS5 | PPS6 | PPS7 | PPS8 |
| 3 | NC(RESET) | I/O | 12 | 18 | 44 | 50 | 76 | 82 | 108 | 114 |
| 4 | NC | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| 5 | NC | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| 6 | NC | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| 7 | CS | I/O | 13 | 19 | 45 | 51 | 77 | 83 | 109 | 115 |
| 8 | DO | I/O | 27 | 28 | 59 | 60 | 91 | 92 | 123 | 124 |
| 9 | WP | I/O | 14 | 20 | 46 | 52 | 78 | 84 | 110 | 116 |
| 10 | VSS | GND | GND | GND | GND | GND | GND | GND | GND | GND |
| 11 | NC | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| 12 | NC | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| 13 | NC | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| 14 | NC | - | - | - | - | - | - | - | - | - |
| 15 | DI | I/O | 15 | 21 | 47 | 53 | 79 | 85 | 111 | 117 |
| 16 | CLK | I/O | 16 | 22 | 48 | 54 | 80 | 86 | 112 | 118 |
テスト項目一覧
本パッケージは、以下のテスト項目を含みます。
| テスト項目 | テスト概要 | 備考 |
|---|---|---|
| コンタクトテスト | デバイスの信号端子のＤＣテスト | |
| 入力リークテスト | 入力端子のリーク確認 | |
| 出力リークテスト | 出力端子のリーク確認 | |
| 機能テスト | 全領域消去試験 | ルーズタイミング |
| 機能テスト | 全領域プログラミング試験 | ルーズタイミング |
| 機能テスト | 全領域読み出し試験 | ルーズタイミング |
| 入力電圧テスト(VIH) | VIHをMin設定で動作確認 | |
| 入力電圧テスト(VIL) | VILをMax設定で動作確認 | |
| 出力電圧テスト(VOH) | 出力電圧のHigh側の電圧測定 | |
| 出力電圧テスト(VOL) | 出力電圧のHigh側の電圧測定 | |
| 機能テスト | チェッカボードパターンの全領域、プログラミング試験・読み出し試験 | 最大周波数試験 |
| 電源電流テスト | ICC1(スタンバイ電流) | スタンバイ時電源電流 |
| 電源電流テスト | ICC2(パワーダウン電流) | パワーダウン時電源電流 |
| 電源電流テスト | ICC3(データリード電流) | リード動作時電源電流 |
| 電源電流テスト | ICC5(ページプログラム電流) | ページ書き込み電源電流 |
| 電源電流テスト | ICC7(チップイレーズ電流) | チップイレーズ電源電流 |
| Shmoo | ＴCQLV | VCC：2.7V-3.6V(0.1V), tCQLV：0ns-9n(0.5ns) |
| イレーズ試験 | 全領域消去 | |
| フェイルビットマップ | 全領域消去後FBMAP確認 |
テストで実行されるパターン・プログラムの動作は、パターン・プログラムの動作イメージをご参照ください。
テスト結果の例
測定結果は、データログとして出力されます。
また、Shmoo試験では下図のような出力を得られます。
