Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージ

Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージは、シリアルNORフラッシュメモリを測定するアプリケーションのパッケージです。 本パッケージは、ワークプロジェクトとパターン・プログラムを含みます。

本パッケージは、パッケージに含まれる対応デバイスを選択できます。 次の流れに従って、ご購入頂けます。お見積の依頼は、ヘルプデスクまでご連絡ください。

  1. CX1000 Satellite Board Boxを購入する
  2. 利用するデバイスと測定用ボードを選択して、見積りを依頼する
  3. 発行された見積りから、購入手続きを行う

本パッケージは、CX1000 Satellite Board Box(288,000円)と測定用ボード(価格は下表を参照)を含みませんので、ご注意下さい。

測定用ボードは、お見積を依頼される際に対応するデバイスに応じて下表からご選択ください。

製品名価格
Serial NOR Flash Memory 測定ボード(ソケット無し)40,000円
Serial NOR Flash Memory 測定ボード(150mil用ソケット8個搭載)180,000円
Serial NOR Flash Memory 測定ボード(208mil用ソケット8個搭載)180,000円
Serial NOR Flash Memory 測定ボード(300mil用ソケット8個搭載)180,000円
Serial NOR Flash Memory 測定ボード(150+300mil用ソケット16個搭載)280,000円
Serial NOR Flash Memory 測定ボード(208+300mil用ソケット16個搭載)280,000円

本パッケージは日本国内のみで販売されます。

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シリアルNORフラッシュメモリとは

NORフラッシュメモリは、ROM(Read Only Memory)の代表的なデバイスであるフラッシュメモリの一種です。 主にプログラムを格納する用途で使用され、マスクROMやEEPROMなどのメモリデバイスのほとんどがNORフラッシュメモリに置き換えられています。

memory-map

NORフラッシュメモリは、パラレルNORフラッシュメモリとシリアルNORフラッシュメモリの2種類があります。

シリアルNORフラッシュメモリは、SPI(Serial Peripheral Interface)やI2C(Inter Integrated Circuit)などのシリアル・インタフェースを採用しています。 これらのインタフェースは、信号ピンが少なく、マイコンとの親和性の高いという特徴があります。

対応するデバイスと価格

対応するデバイスは、下表のとおりです。

メーカ型番パッケージピン数
GigaDeviceGD25Q41BTIGRSOIC(150mil)8
GD25Q80BSIGRSOIC(208mil)8
GD25Q16BSIGRSOIC(208mil)8
GD25Q32CSIGRSOIC(208mil)8
GD25Q64BSIGRSOIC(208mil)8
GD25Q128CSIGRSOIC(208mil)8
GD25Q128CFIGRSOIC(300mil)16
GD25Q256CFIGSOIC(300mil)16
MacronixMX25L3233FM2I-08GSOIC(208mil)8
MX25L6433FM2I-08GSOIC(208mil)8
MX25L12835FM2I-10GSOIC(208mil)8
MX25L12835FMI-10GSOIC(300mil)16
MX25L25635FMI-10GSOIC(300mil)16
WinbondW25Q40CLSNIGSOIC(150mil)8
W25Q80DVSSIGSOIC(208mil)8
W25Q16DVSSIG SOIC(208mil)8
W25Q32FVSSIGSOIC(208mil)8
W25Q64FVSSIGSOIC(208mil)8
W25Q128FVSIGSOIC(208mil)8
W25Q128FVFIGSOIC(300mil)16
W25Q256FVFIGSOIC(300mil)16
SpansionS25FL116K0XMFI010SOIC(208mil)8
S25FL116K0XMFI040SOIC(208mil)8
S25FL132K0XMFI010SOIC(208mil)8
S25FL164K0XMFI010SOIC(208mil)8
S25FL127SABMFI101SOIC(208mil)8
S25FL127SABMFI000SOIC(300mil)16
S25FL256SAGMFI010SOIC(300mil)16
S25FL256SAGMFI000SOIC(300mil)16
S25FL512SAGMFI010SOIC(300mil)16
MicronM25P80VMN6PSOIC(150mil)8
M25P16VMN6PSOIC(150mil)8
N25Q032A13ESE40ESOIC(208mil)8
N25Q064A13ESE40ESOIC(208mil)8
N25Q128A13ESE40ESOIC(208mil)8
N25Q256A13ESF40FSOIC(300mil)16

価格は、パッケージに含まれる対応デバイスの数に応じて異なります。 対応デバイスの数ごとの価格は、下表のとおりです。

対応デバイスの数価格
1品種から3品種まで400,000円 + 200,000円×品種数
4品種から6品種まで400,000円 + 170,000円×品種数
7品種から33品種まで400,000円 + 150,000円×品種数

パッケージと信号名称

本パッケージが対応するデバイスパッケージは、SPIインタフェースを持つ8ピンタイプと16ピンタイプのシリアルNORフラッシュメモリです。

8ピンタイプのシリアルNORフラッシュメモリのピン・アサインは、下表の通りです。

8ピンタイプ(150mil/208mil)
Pin Number Pin Name Channel Type Tester Channel No.
DUT1 DUT2 DUT3 DUT4 DUT5 DUT6 DUT7 DUT8
1CSI/O163338657097102
2DOI/O252657588990121122
3WPI/O273439667198103
4VSSGNDGNDGNDGNDGNDGNDGNDGNDGND
5DII/O383540677299104
6CLKI/O4936416873100105
7HOLDI/O51037426974101106
8VCCPPSPPS1PPS2PPS3PPS4PPS5PPS6PPS7PPS8

16ピンタイプのシリアルNORフラッシュメモリのピン・アサインは、下表の通りです。

16ピンタイプ(300mil)
Pin Number Pin Name Channel Type Tester Channel No.
DUT1 DUT2 DUT3 DUT4 DUT5 DUT6 DUT7 DUT8
1HOLDI/O111743497581107113
2VCCPPSPPS1PPS2PPS3PPS4PPS5PPS6PPS7PPS8
3NC(RESET)I/O121844507682108114
4NC---------
5NC---------
6NC---------
7CSI/O131945517783109115
8DOI/O272859609192123124
9WPI/O142046527884110116
10VSSGNDGNDGNDGNDGNDGNDGNDGNDGND
11NC---------
12NC---------
13NC---------
14NC---------
15DII/O152147537985111117
16CLKI/O162248548086112118

テスト項目一覧

本パッケージは、以下のテスト項目を含みます。

テスト項目テスト概要備考
コンタクトテストデバイスの信号端子のDCテスト
入力リークテスト入力端子のリーク確認
出力リークテスト出力端子のリーク確認
機能テスト全領域消去試験ルーズタイミング
機能テスト全領域プログラミング試験ルーズタイミング
機能テスト全領域読み出し試験ルーズタイミング
入力電圧テスト(VIH)VIHをMin設定で動作確認
入力電圧テスト(VIL)VILをMax設定で動作確認
出力電圧テスト(VOH)出力電圧のHigh側の電圧測定
出力電圧テスト(VOL)出力電圧のHigh側の電圧測定
機能テストチェッカボードパターンの全領域、プログラミング試験・読み出し試験最大周波数試験
電源電流テストICC1(スタンバイ電流)スタンバイ時電源電流
電源電流テストICC2(パワーダウン電流)パワーダウン時電源電流
電源電流テストICC3(データリード電流)リード動作時電源電流
電源電流テストICC5(ページプログラム電流)ページ書き込み電源電流
電源電流テストICC7(チップイレーズ電流)チップイレーズ電源電流
ShmooTCQLVVCC:2.7V-3.6V(0.1V), tCQLV:0ns-9n(0.5ns)
イレーズ試験全領域消去
フェイルビットマップ全領域消去後FBMAP確認

テストで実行されるパターン・プログラムの動作は、パターン・プログラムの動作イメージをご参照ください。

pattern behavior

テスト結果の例

測定結果は、データログとして出力されます。

データログをダウンロードする

また、Shmoo試験では下図のような出力を得られます。

カートに入れる
製品グループデバイス・プログラム
型番PCXD01-M4003
提供元Cloud Testing Service株式会社
対応機器
  • CX1000P MEMORY_TYPE_F
  • CX1000D MEMORY_TYPE_F

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