2018年11月26日(月)
12月12日–14日に開催されるSEMICON Japan 2018にてCloudTesting™ Serviceをご紹介いたします。
| イベント名 | SEMICON Japan ホームページ http://www.semiconjapan.org/ |
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| 期間 | 2018年12月12日(水)–14日(金) |
| 場所 | 東京ビッグサイト 東展示棟・会議棟 |
| ブース |
Cloud Testng Service株式会社はATEサービス株式会社様と共同で出展いたします。 Booth Number: 1926 後工程・総合ゾーン デスクトップサイズの温度特性評価システムとして、ATEサービス株式会社のペルチェ式温度試験環境装置（CTSシリーズ）と、当社のCX1000Dを組み合わせたシステムを展示します。 また、日本電子材料株式会社様のブースでは、CTSを利用したプローブカード検査システムの疑似環境を展示いただきます。 Booth Number: 2409 部品・材料ゾーン |