このドキュメントは、CloudTesting™ StationのMEMORY_TYPE_Fファームウェアについて説明します。
MEMORY_TYPE_Fファームウェアは、メモリ・デバイスを測定するための機能を持っています。 MEMORY_TYPE_Fファームウェアの特徴は、以下のとおりです。
- 最大周波数255MHz/533Mbpsのデジタル信号発生器を搭載
- ALPG(ALgorithmic Pattern Generator)
- DCパラメトリック測定ユニットを搭載
- Source Synchronous機能
- SDカード向け機能
- CRC自動計算機能
- RCA情報生成・格納機能
- シリアルパターン生成機能
ALPGは、メモリセルを試験するパターンを生成する機能です。 メモリセルは、マーチングパターンやチェッカーパターンなどの規則的なパターンで試験します。 効率的にパターンを生成するために、ALPGはアドレスやデータを演算するパターン・プログラムを実行できます。 よって、MEMORY_TYPE_Fファームウェアは規則的かつ膨大なパターンを効率よく生成できます。
ターゲットデバイス
MEMORY_TYPE_Fファームウェアのターゲットデバイスは、下表を参照してください。
| カテゴリ | デバイス |
|---|---|
| DRAM | SDRAM、 DDR SDRAM、 DDR2 SDRAM() |
| Flash | NAND、 ToggleNAND/ONFI、 eMMC、 NOR(パラレル)、 NOR(シリアル/SPI) |
| SRAM | 非同期SRAM、 同期SRAM、 SPI-SRAM |
| SDカード | SDSC、 SDHC、 SDXC-I()、 SDXC-II() |
| EEPROM | シリアルI2C、 シリアルSPI、 パラレル |
| EPROM | EPROM |
| 次世代不揮発性RAM | FRAM(Ferroelectric RAM)、 MRAM(Magnetoresistive RAM)、 PCM/PRAM(相変化メモリ)、 ReRAM(Resistance RAM) |
測定チャンネル
MEMORY_TYPE_Fファームウェアで、利用できる機種ごとの測定チャンネル数は下表を参照してください。
| 測定チャンネル | CX1000P | CX1000D |
|---|---|---|
| I/O | 32 | 128 |
| Power Supply | 2 | 8 |
| Reference Voltage Supply | 2 | 8 |