質問
Functional Testing IPで機能試験を実施したところ、以下の様にデータ・ログのフェイル・サイクル情報でFailしているピンが1つもないにも関わらず、試験結果がFailとなってしまいます。
理由を教えてください。
回答
試験条件が以下の様な設定になってませんか？
- [Signal]タブで、メイン・パターンに記述していないピンを[Mode]=[Out]に設定している。
メイン・パターンに記述されていないピンはパターンの全アドレスでWFC0で動作します。詳細はCX1000ユーザーズ・マニュアルの「信号条件を設定する ◆信号条件とパターンの関係」を参照ください。
これらのピンが[Mode]=[Out]に設定されている場合、コンパレータとして動作し、パターン実行中の全アドレスでL比較（WFC0）を行います。データ・ログのフェイル・サイクル情報は、メイン・パターンに記述されているピンの情報を表示するため、これらのピンの結果は表示されません。
そのため、メイン・パターンに記述の無いピンでFailが発生すると、フェイル・サイクル・ログにFailピンは出力されませんが、試験結果はFailとなります。
以下の何れかの方法で解決出来ます。
- 比較判定しないピンは[Mode]=[Open]に設定する。
- メイン・パターンに全てのピンを記述する。
- [Pattern]タブの[Mask Pins]を設定し、比較が不要なピンをマスクする。