CloudTesting™ Lab 2.46.00

1. 改版概要

リビジョン番号	改版理由
2.46.00	機能追加、機能改善、不具合修正

2. 追加機能

2.1 マニュアル

(1) 以下のGUIに、そのGUIの機能に関連するマニュアルを開くボタンを追加しました。

• スタートアップ・ウィンドウ
• メイン・ウィンドウ
  • ツールバー
  • スタンダード・モードの[Work Navigator]の各画面
  • エキスパート・モードのコントロール・パネル
  • エキスパート・モードのフロー項目領域
• [Define Variables]ダイアログ・ボックス
• [Message Area Settings]ダイアログ・ボックス
• [Optimize Variable Evaluation at Interpose Execution]ダイアログ・ボックス (新規追加、エキスパート・モード)

2.2 CTコマンド・クライアント

(1) CloudTesting™ LabをJava言語から制御する機能

CloudTesting™ LabをJava言語から制御する機能に対応しました。
このJava言語のプログラムをCTコマンド・クライアントと呼びます。
CTコマンド・クライアントは、CTコマンドと同等の機能を提供します。

対象ファームウェア
CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

詳細は「CTコマンド・クライアント(Java版)」を参照してください。
このマニュアルはWindowsのスタート・メニューより、[CloudTesting] > [CT Command Client (Java) Manual] を選択して参照できます。

2.3 エキスパート・モード

(1) 変数値を表示するインターポーズ・アルゴリズム

「フロー項目の実行前または実行後に、変数値を表示するインターポーズ・アルゴリズム」を追加しました。

詳細は、「CX1000 ユーザーズ・マニュアル」の以下の節を参照してください。 - 「8.5 フロー項目領域」 - 「8.5.2 [Pre Interpose]、[Post Interpose]タブ」 - 「Show Variable Valuesアルゴリズム」

3. 機能改善

3.1 CTコマンド

(1) CT_Start.batでCloudTesting(TM) Labを起動したとき、IPのアップデート通知で停止しないように改善

CT_Start.batでCloudTesting(TM) Labを起動したとき、IPのアップデート通知で停止しないように仕様を変更しました。

対象ファームウェア
CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

3.2 エキスパート・モード

(1) インターポーズ処理実行時の変数評価処理を最適化するオプションを追加

インターポーズ処理実行時の変数評価処理を最適化し、実行時間を短縮するオプションを追加しました。

対象ファームウェア
CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

詳細は、「CX1000 ユーザーズ・マニュアル」の以下の節を参照してください。

• 「8.6 メニュー・バー」
  • 「Option」
    • 「[Optimize Variable Evaluation at Interpose Execution]ダイアログ・ボックス」

4. 不具合項目

4.1 エキスパート・モード

(1) データ・ログの出力対象の測定項目番号(Item ID)を設定していると測定時間が遅くなる現象

[Data Log Settings]ダイアログ・ボックスの[Target]の[Item ID]で、データ・ログの出力対象の測定項目番号を設定していると、測定時間が著しく遅延していました。

• 改善後の動作
  測定時間の著しい遅延は改善されました。

現象発生レビジョン	対象ファームウェア
Rev 2.20.00 ～ 2.45.01	CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

4.2 Analysis Tools

(1) Shmoo Plot ToolでShmoo条件を読み込む際に、トラッキング設定が無効になる現象

Shmoo Plot Toolで、軸に変数と同じ名前のリソースが指定されているShmoo条件を読み込むと、トラッキング設定が無効になっていました。

• 改善後の動作
  上記の条件でも、トラッキング設定が有効です。
  なお、本リビジョンへアップデートすると、Shmoo Plot Toolの以下のリビジョンへのアップデートも必要です。 - Shmoo Plot Tool Rev 2.46.00 (PCXT01-M6001) - Shmoo Plot Tool for Memory Rev 2.46.00 (PCXT01-M8001)

現象発生レビジョン	対象ファームウェア
Rev 2.24.00 ～ 2.45.01	CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

4.3 Setup and Execution

4.3.1 パターン条件

4.3.1.1 CX1000_MCU

(1) String型の配列変数が使用できない現象

• 以下の設定で、String型の配列変数が使用できませんでした。
  • [Execution Section], [Compare Section], [Loop Section]の[Start]および[Stop]
  • [Mask Pins]
• 改善後の動作
  上記の設定で、String型の配列変数が使用できます。

現象発生レビジョン
Rev 2.20.00 ～ 2.45.01

(2) IDXレジスタの上書き設定で、IDXに不正な値を設定していると、上書き対象から外していても測定実行時にエラーになる現象

• DXレジスタの上書き設定で、IDXに不正な値を設定していると、上書き対象から外していても測定実行時にエラーになっていました。
• 改善後の動作
  上書き対象から外したIDXではエラーは発生しません。

現象発生レビジョン
Rev 2.44.00 ～ 2.45.01

(3) 測定を実行すると、[Mask Pins]のツール・チップの表示が最初のピン名だけになる現象

• 測定を実行すると、[Mask Pins]のツール・チップの表示が最初のピン名だけになっていました。
• 改善後の動作
  ツール・チップに正しいピン名が表示されます。

現象発生レビジョン
Rev 2.44.00 ～ 2.45.01

4.3.1.2 CX1000_MEMORY_TYPE_F

(1) String型の配列変数が使用できない現象

• 以下の設定で、String型の配列変数が使用できませんでした。
  • [Pattern]
  • [Mask Pins]
  • [Register Condition]の[CPE1]～[CPE4]および[DRE1], [DRE2]
  • [Set Data Buffer Memory(DBM)]の[File Name]
• 改善後の動作
  上記の設定で、String型の配列変数が使用できます。

現象発生レビジョン
Rev 2.20.00 ～ 2.45.01

(2) 測定を実行すると、[Mask Pins]のツール・チップに値が表示されなくなる現象

• 測定を実行すると、[Mask Pins]のツール・チップに値が表示されなくなっていました。
• 改善後の動作
  ツール・チップに正しいピン名が表示されます。

現象発生レビジョン
Rev 2.20.00 ～ 2.45.01

(3) [Mask Pins]に変数を指定するとき、カンマ区切りの複数ピンが指定できない現象

• [Mask Pins]に変数を指定するとき、カンマ区切りの複数ピンが指定できませんでした。
• 改善後の動作
  [Mask Pins]に変数を指定するとき、カンマ区切りの複数ピンが指定できます。

現象発生レビジョン
Rev 2.20.00 ～ 2.45.01