CloudTesting™ Lab 2.24.00

1. 改版概要

レビジョン番号: Rev 2.24.00
改版理由: 機能追加、機能改善、不具合修正

2. 追加機能

2.1 Setup and Execution

(1) 信号条件の機能追加

以下の機能を追加しました。 - WFC 0/1/N/Pに個別のタイミングを設定できるようになりました - ドライバの初期状態を指定できるようになりました - ドライバをオン/オフするタイミングを指定できるようになりました - ダイナミック・クランプが使用できるようになりました

対象ファームウェア: CX1000_MCU

(2) I/O切り替え方法の追加

I/O切り替え方法を選択できるようになりました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU

2.2 Edit Measure Item

(1) 複数の測定項目を一括して編集する機能

複数の測定項目の削除または複製が一括でできるようになりました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(2) 測定項目を検索する機能

測定項目名またはアルゴリズム名の一部の文字列を入力して、測定項目を検索できるようにしました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

2.3 Flow Execution(スタンダード・モード)

(1) 複数の測定項目を一度に移動する機能

マウスのドラッグ・アンド・ドロップによるフロー実行順の変更で、複数の測定項目を一度に移動できるようになりました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(2) 測定項目を削除または複製する機能

右クリックメニューより、選択した測定項目の削除と複製ができるようになりました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(3) 測定条件変更のための画面切り替えが容易にできる機能

フロー設定領域に測定条件変更のためのボタンを設置しました。このボタンをクリックすることにより、測定条件変更のための画面切り替えが容易にできるようになりました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

2.4 Pin Definitions

(1) 複数ピンを一括で定義する機能

規則的なルールを指定して、複数ピンにチャンネル番号を一括して割り当てる機能を追加しました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

3. 改善機能

3.1 Setup and Execution

(1) Negative Clamp下限値の変更

DCパラメトリック測定条件の[ISVM]モードで、[Negative Clamp]に設定可能な値の下限を-1.8318Vから-2.0022Vに変更しました。また、[MVM]モードの[Negative Clamp]は、-2.0022Vに固定されるようになりました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

3.2 メッセージ表示領域

(1) ログ表示のパフォーマンス改善

ログ表示のパフォーマンスを改善しました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F, CX50_GENERAL

(2) ログ表示できる最大文字数の最大値の拡張

ログ表示できる最大文字数の最大値を拡張しました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F, CX50_GENERAL

3.3 Edit Measure Item

(1) 測定項目の並び順の変更

測定項目の並び順を作成順からフローの並び順に変更しました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

3.4 データ・ログ・ダイアログ

(1) データ・ログ・ダイアログの改善

データ・ログ・ダイアログの操作性を改善しました。

対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

4. 不具合項目

4.1 CTコマンド

(1) CT_WorkProjectOpen.bat の連続実行でエラーが発生する現象

CT_WorkProjectOpen.bat を連続して実行すると、エラーが発生する場合がありました。

改善後の動作: エラーが発生しなくなりました。
現象発生レビジョン: Rev 2.20.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

4.2 エキスパート・モード

(1) 他のワーク・プロジェクトからフロー項目を追加すると変数定義が削除される現象

他のワーク・プロジェクトからフロー項目を追加すると、元のワーク・プロジェクトの変数定義が削除されていました。

改善後の動作: 変数定義が削除されなくなりました。
現象発生レビジョン: Rev 2.20.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

4.3 Setup and Execution

(1) 電源投入/遮断のシーケンスが正しく行われない現象

測定項目間で電源投入の状態を維持して測定する場合に、次の条件に合致すると電源投入/遮断のシーケンスが正しく行われないことがありました。

測定項目間でパワー・シーケンスに使用するピンが異なる場合
一つのパワー・シーケンスに同じピンを複数回指定している場合

改善後の動作: 上記の条件で、電源投入/遮断のシーケンスが正しく行われるようになりました。
現象発生レビジョン: Rev 2.20.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(2) 並列接続した電源ピンへの、800mA以外の測定レンジの設定が、エラーとならない現象

並列接続した電源ピンと通常接続した電源ピンが混在する場合、並列接続した電源ピンへの800mA以外の測定レンジの設定が、エラーとならない事がありました。

改善後の動作: 上記の場合に、正しくエラーが発生するようになりました。
現象発生レビジョン: Rev 1.03.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

4.4 変数

(1) 同一演算式内で、一度に2つ以上の変数名称が変更できない現象

2つ以上の変数を使用した演算式を測定条件に指定した場合に、変数名称を一度に変更すると、変更前の変数名が定義されていないというエラーになっていました。

改善後の動作: 変数の名称が正しく変更されます。
現象発生レビジョン: Rev 2.20.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(2) 定義前の変数を変数の初期値に指定できる現象

変数の宣言時、その変数より後の評価順の変数を初期値に設定できる場合がありました。

改善後の動作: 宣言する変数より後の評価順の変数を初期値に使用すると、エラーになります。
現象発生レビジョン: Rev 2.20.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(3) 変数のインポート時にシステム変数の初期値が反映されない現象

システム変数の初期値を変更して保存したCSVファイルをインポートすると、初期値の変更が反映されずデフォルト値のままになっている場合がありました。以下の条件で発生します。

システム変数の[No.]と同じ値の[No.]のユーザ変数を定義している場合

改善後の動作: CSVファイルに保存されている初期値が反映されます。
現象発生レビジョン: Rev 2.20.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

(4) システム変数の評価順が読み込まれない現象

ワーク・プロジェクトまたはCSVファイルよりシステム変数を読み込んだ場合、保存されているシステム変数の評価順が有効にならず、デフォルトの評価順のままになっていました。

改善後の動作: ワーク・プロジェクトまたはCSVファイルに保存されているシステム変数の評価順が有効になります。
現象発生レビジョン: Rev 2.20.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F

4.5 Pin Definitions

(1) ピン定義が削除される現象

以下の手順でピンを定義して測定を実行すると、全てのピン定義が削除された状態になり、エラーが発生していました。

適切にピンを定義する。
チャンネル番号が範囲外のピンを定義する。
ピン定義を適用する。(手順2のピン定義でエラーが発生する。)
手順2のピン定義を削除し、手順1の状態に戻す。

改善後の動作: 上記でエラーが発生しなくなりました。
現象発生レビジョン: Rev 1.00.00 ～ Rev 2.23.01
対象ファームウェア: CX1000_MCU, CX1000_MEMORY_TYPE_F