2017年04月24日(月) | IEEE European Test Symposium 2017(ETS'17)に参加5月22日から26日に開催される22nd IEEE European Test Symposium (ETS)に参加致します。 |
2017年04月18日(火) | 2017年度ゴールデンウィーク中の営業のご案内4月29日から5月7日のゴールデンウィーク中の営業内容を以下の通りとさせていただきます。ご不便をおかけしますが、ご了承のほどよろしくお願いします。 |
2017年02月21日(火) | DATE 2017に出展Cloud Testing Service株式会社は、3月27日から31日に開催されるDATE 2017に出展致します。 |
2017年01月27日(金) | IESA Vision Summit 2017に出展Cloud Testing Service株式会社は、2月21日から22日に開催されるIESA Vision Summit 2017に出展致します。 |
2016年12月26日(月) | 2016年度 年末年始営業のご案内Cloud Testing Service株式会社は2016年12月29日から2017年1月3日まで、営業内容を変更させて頂きます。 |
2016年12月12日(月) | SEMICON Japan 2016に出展Cloud Testing Service株式会社は、SEMICON Japan 2016に出展致します。 |
2016年11月10日(木) | ET 2016 組込み総合技術展に出展CloudTesting™ Serviceを用いたデモンストレーションが、11月16日から11月18日にかけて開催される[ET 2016 組込み総合技術展]のお客様ブースにて実施されます。 |
2016年11月09日(水) | システムメンテナンスのお知らせ2016年12月7日(水)09:00から11:00までの間、一部サービスを利用頂けません。 |
2016年10月04日(火) | Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージの提供を開始Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージの提供を開始 |
2016年09月20日(火) | サポートサービス一新のお知らせ2016年10月1日より、サポートサービスを一新致します。 |