お知らせ

2017年01月27日(金)
IESA Vision Summit 2017に出展

Cloud Testing Service株式会社は、2月21日から22日に開催されるIESA Vision Summit 2017に出展致します。

2016年12月26日(月)
2016年度 年末年始営業のご案内

Cloud Testing Service株式会社は2016年12月29日から2017年1月3日まで、営業内容を変更させて頂きます。

2016年12月12日(月)
SEMICON Japan 2016に出展

Cloud Testing Service株式会社は、SEMICON Japan 2016に出展致します。

2016年11月10日(木)
ET 2016 組込み総合技術展に出展

CloudTesting™ Serviceを用いたデモンストレーションが、11月16日から11月18日にかけて開催される[ET 2016 組込み総合技術展]のお客様ブースにて実施されます。

2016年11月09日(水)
システムメンテナンスのお知らせ

2016年12月7日(水)09:00から11:00までの間、一部サービスを利用頂けません。

2016年10月04日(火)
Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージの提供を開始

Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージの提供を開始

2016年09月20日(火)
サポートサービス一新のお知らせ

2016年10月1日より、サポートサービスを一新致します。

2016年09月09日(金)
ITC 2016に出展

Cloud Testing Service株式会社は、International Test Conference 2016に出展致します。

2016年09月02日(金)
Asian Test Symposiumに出展

Cloud Testing Service株式会社は、11月21日-24日に開催されるAsian Test Symposium(ATS'16)にて、パネルと実機の展示を行います。

2016年07月28日(木)
夏期休業のお知らせ

夏期休業のため、2016年8月8日から12日まで、営業内容を変更させていただきます。