2017年01月27日(金) | IESA Vision Summit 2017に出展Cloud Testing Service株式会社は、2月21日から22日に開催されるIESA Vision Summit 2017に出展致します。 |
2016年12月26日(月) | 2016年度 年末年始営業のご案内Cloud Testing Service株式会社は2016年12月29日から2017年1月3日まで、営業内容を変更させて頂きます。 |
2016年12月12日(月) | SEMICON Japan 2016に出展Cloud Testing Service株式会社は、SEMICON Japan 2016に出展致します。 |
2016年11月10日(木) | ET 2016 組込み総合技術展に出展CloudTesting™ Serviceを用いたデモンストレーションが、11月16日から11月18日にかけて開催される[ET 2016 組込み総合技術展]のお客様ブースにて実施されます。 |
2016年11月09日(水) | システムメンテナンスのお知らせ2016年12月7日(水)09:00から11:00までの間、一部サービスを利用頂けません。 |
2016年10月04日(火) | Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージの提供を開始Serial NOR Flash Memory アプリケーション・パッケージの提供を開始 |
2016年09月20日(火) | サポートサービス一新のお知らせ2016年10月1日より、サポートサービスを一新致します。 |
2016年09月09日(金) | ITC 2016に出展Cloud Testing Service株式会社は、International Test Conference 2016に出展致します。 |
2016年09月02日(金) | Asian Test Symposiumに出展Cloud Testing Service株式会社は、11月21日-24日に開催されるAsian Test Symposium(ATS'16)にて、パネルと実機の展示を行います。 |
2016年07月28日(木) | 夏期休業のお知らせ夏期休業のため、2016年8月8日から12日まで、営業内容を変更させていただきます。 |