SEMICON Japan 2016に出展

2016年12月12日(月)

Cloud Testing Service株式会社は、12月14日から12月16日にかけて開催されるSEMICON Japan 2016に出展致します。

日程	2016年12月14日 - 12月16日
場所	東京ビッグサイト

アドバンテストグループとしての展示

Cloud Testing Service株式会社は、アドバンテストグループとして出展致します。

出展会社名	小間番号	展示内容
株式会社アドバンテスト	2445	V93000、T2000へのプログラム変換ソリューション、及び、ビッグデータ活用ソリューション

お客様ブース、パートナーブースにて、デモンストレーションも開催いたします。

出展会社名	小間番号	展示内容
ATEサービス株式会社	1225	温度環境試験装置と組み合わせたメモリテストソリューション
株式会社エリア	3411	小型BOSTとCTSを組み合わせたテストソリューション
日本電子材料株式会社	2721	プローブカード検査ソリューション

ATEサービス社製のコンパクトで低価格なデスクトップ型温度環境試験装置、“CTS-01A”とCX1000Pを組み合わせたメモリテストソリューションをご紹介します。

低価格・省スペースでメモリデバイスの加速度試験や動作マージンチェックが可能となり、製品の設計品質の向上に貢献します。

エリア社製の小型BOSTをデバイス直近に配置することにより、高価で大型な外部電源・TMUを購入することなく、低価格でストレス試験、スクリーニング試験が可能となります。

日本電子材料様がCTSを利用して行われているプローブカード検査についてご紹介します。

日本電子材料様は、超多数個同測用プローブカードの製造において、全ピンの針先抵抗値、ピン間ショート、線長チェックにCTSをご活用されています。プローブカード上の能動・受動部品の電気特性チェックを行うことによって、高品質なプローブカードの提供を実現されています。