2017年12月08日(金)
Cloud Testing Service株式会社は、12月13日から12月15日にかけて開催されるSEMICON Japan 2017に出展致します。
| イベント名 | SEMICON Japan ホームページ http://www.semiconjapan.org/ |
|---|---|
| 期間 | 2017年12月13日(水) - 15日(金) |
| 場所 | 東京ビッグサイト 東展示棟・会議棟 |
アドバンテストブースでの展示
| 出展会社名 | 小間番号 | 展示内容 |
|---|---|---|
| 株式会社アドバンテスト | 2045 | オンラインデータ解析ソリューション |
お客様ブース、パートナーブースでの展示
お客様ブース、パートナーブースにて、デモンストレーションも開催いたします。
| 出展会社名 | 小間番号 | 展示内容 |
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| ATEサービス株式会社 | 1933 | メモリデバイス温度印加時のアクセススピードについて、CloudTesting™ Serivceを用いた変化観測 |
| 株式会社トモエレクトロ | 2003 | CloudTesting™ Serivce向けのボード展示 |
| 日本電子材料株式会社 | 2529 | CloudTesting™ Serivceを用いたプローブカードの電気特性チェック |
| 株式会社エリア(大分県LSIクラスター形成推進会議内) | 2633 | CloudTesting™ Serivceを用いた高電圧測定デモ |