3. Current and Voltage Measurements for Memory (DCParametricMeasure_Mem_TypeF_IP)

Current and Voltage Measurements for Memory (DCParametricMeasure_Mem_TypeF_IP)

Current and Voltage Measurements for Memoryは、信号ピンの電流・電圧を測定するアルゴリズムIPです。

  • 信号ピンの電流・電圧を測定できます
  • 電流・電圧を測定する前に、パターン・プログラムを実行できます
  • 測定値をコンソールに表示できます
  • 測定値に対してリミット値が設定でき、良否判定できます

機能

Current and Voltage Measurements for Memoryは、信号ピンの電流・電圧を測定するアルゴリズムIPです。

  • 信号ピンの電流・電圧を測定できます
  • 電流・電圧を測定する前に、パターン・プログラムを実行できます
  • 測定値をコンソールに表示できます
  • 測定値に対してリミット値が設定でき、良否判定できます
  • 以下のライセンスに対応しています。
    • Condition Table Memory_TypeF License(PCXA01-M3004) (Manual)
    • High Resolution Timing Memory_TypeF License(PCXA01-M3006) (Manual)

カートに入れる

製品グループアルゴリズムIP
型番PCXA01-M3002
関連リンク
提供元株式会社ADVANTEST
対応機器
  • CX1000P MEMORY_TYPE_F
  • CX1000D MEMORY_TYPE_F
High Resolution Timing Setting for Memory_TypeF License

Condition Table Memory_TypeF License

リビジョン

リリース日リビジョン番号内容
2021年04月22日(木)1.07.01
  1. Functional Testing for Memory(PCXA01-M3001) Rev1.08.01のCondition Table Memory_TypeF License(PCXA01-M3004)に対応しました。(Functional Testing for Memory(PCXA01-M3001) Rev1.08.01の改版履歴)
  • Rev 1.07.00では、機能追加のためにワーク・プロジェクトのフォーマットを変更しています。Rev 1.07.00以降で保存したワーク・プロジェクトは下位互換がありません。
2021年04月13日(火)1.07.00
  • Wait Timeの設定に変数を使用できます。
  • Functional Testing for Memory(PCXA01-M3001) Rev1.08.00のCondition Table Memory_TypeF License(PCXA01-M3004)に対応しました。
2020年07月29日(水)1.06.03

(1) 測定対象が1PINのとき、次の測定項目のErrorが発生する場合があります。改善後、正しく測定できます。
(2) エキスパート・モード時、[Measure Condition]タブの[Keep Power On]とフロー項目一覧領域の[Power Keep]の設定が同期して変更されるように修正しました。

2020年01月09日(木)1.06.02

Condition Table Memory_TypeF License(PCXA01-3004)

PatternでWAITを使用し、かつ、測定対象が1PINの時、2回目以降のWAITで正しく測定できていませんでした。
改善後、正しく測定できます。

2019年08月28日(水)1.06.01

Condition Table Memory_TypeF License(PCXA01-3004)

[Condition Table]でVIH/VILが電圧発生範囲外または電圧発生振幅範囲外になるとき、Errorとする仕様に変更しました。

2019年03月04日(月)1.06.00
  • パターン・シーケンス命令“WAIT”対応の機能を追加しました。
  • 日本語商品名を電流電圧検証メモリ用“から”Current and Voltage Measurements for Memory“に変更しました。
2016年12月06日(火)1.05.00

エキスパート・モードの“フロー項目一覧領域”の“電源遮断制御”機能に対応しました。

関連するお知らせ

2016年11月10日(木)
ET 2016 組込み総合技術展に出展

CloudTesting™ Serviceを用いたデモンストレーションが、11月16日から11月18日にかけて開催される[ET 2016 組込み総合技術展]のお客様ブースにて実施されます。