Startup for Memory Device Measurement

Startup for Memory Device Measurementは、NANDフラッシュメモリの測定と解析を行うセミナーです。

内容

  1. CloudTesting™ Serviceとは
  2. 測定環境のセットアップ
  3. 測定原理の説明と実際の測定
    • コンタクト試験
    • ファンクション試験
    • アクティブ電源電流試験
    • リーク電流試験
  4. 解析

セミナー申込み

開催場所

ATE Service